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Product Center該氣敏測試真空探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環境下調節,其中X方向調節范圍:0-30mm;y方向調節范圍:0-13mm;z方向調節范圍:0-13mm;用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微
小型真空探針臺高溫熱臺KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數的變化。腔體內被測芯片在真空環境中有效避免易受氧化半導體器件接觸空氣所帶來的測試結果誤差。
高溫熱臺小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等
Mini真空探針臺KT-0904T是一款普通型無高溫低溫系統真空探針臺,尺寸300mmX260mm,輕便小喬,功能齊全。可應用于導體/微電子,電子,機電,物理,化學,材料,光電,納米,微機電/MEMS,生物芯片,航空航天等科學研究領域,以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產制造領域。
高溫真空腔光學測試KT-Z4019MRL4T,300X300X170(mm) 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳,-196℃至350℃微型高低溫探針臺,小巧輕便,功能齊全。