產品中心
Product Center測試夾具要求:可實現XYZ移動; 高低溫探針臺的詳細介紹測試腔:同時滿足靜態/動態測試,304不銹鋼材質,可在紫外燈下保證氣密性測試; 測試樣品數:同時測試8個樣品,可進行頻率-阻抗測試、插指電極和場效應管測試;
分子泵≤10-3Pa真空探針臺主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
低溫-196-350℃真空探針臺 鄭科探廠家主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
高溫35-350℃真空探針臺主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發,旨在確保質量及可靠性,并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。
真空探針臺測試設備 高低溫測試臺探針臂為X/Y/Z三軸移動,三個方向均可在真空環境下精密移位調節,其中X方向調節范圍:0-30mm;y方向調節范圍:0-20mm;z方向調節范圍:0-20mm;用戶可根據需要自行調節。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微調探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對準檢測點后,即可進行