產(chǎn)品中心
Product Center鄭科探高溫400℃ 低-190℃ 微型真空探針冷臺 測試噪聲小于5E-13A 可擴展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴展凹視鏡 用于拉曼光譜測試 探針腔體可達真空0.1pa(機械泵) 1E-3Pa(分子泵)可用于光學 氣敏 濕敏 壓敏材料 電化學測試
氣體傳感器測試腔不銹鋼真空探針臺 探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本
低溫測試探針臺主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺,臺面為φ30,臺面最高可升溫到最高400℃。臺面四周裝有微型3軸可移動鎢鋼探針,特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。該腔體設計有進氣口和抽真空接口其真空度用機械泵可達<5Pa分子泵可達<-3Pa。真空信號連接處使用高級真空電極信號接頭,保證氣密性及抗干擾性
KT-Z1604T型號真空探針臺 鄭科探廠家應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。
半導體測試探針臺是一款適用于4-6英寸晶圓測試的基本型探針臺,結構緊湊,配置豐富,可搭配中體式或視頻顯微鏡,實用且性價比高,非常適合高校、研究機構、半導體工廠等實驗室的半導體測試應用,模塊化結構設計,支持后期靈活擴展升級。